2012-02-08
[3130]
电子产品的可靠性试验方法有多种，下面介绍几种常用的方法。
第一种方法是“试验——问题记录——再试验”模式。
该
第二种方法是“试验——改进——再试验”模式。
该方法就是把初步研制的产品，通过试验，暴露产品的薄弱环节，分析产品的失效模式和失效机理，找出问题就立即改进，，使产品的可靠性得到增长。这种方法在电子产品的研制阶段，通过系统试验，暴露出产品薄弱环节之后，根据具体情况，立即进行必要的改进是能够使产品的可靠性有大幅度的增长，这种方法比较适用于试验中只出现一种比较普遍和严重问题的情况，针对性较强。
第三种方法是“含延缓改进的试验——改进——再试验”模式。
。
对于以上所述的三种方法，电子产品在研制阶段中，经过系统的试验，要根据暴露出的问题作具体分析，灵活应用。可靠性试验中常用的三种方法往往是周而复始地循环，并且一个循环比一个循环产品的可靠性水平向上增长，另外可靠性试验除通过系统试验外，还应根据具体情况通过气候环境试验、机械环境试验和人为正常使用等各方面的试验来暴露产品生产的薄弱环节，进行综合的科学分析，做相应的改进，使得电子产品在设计研制阶段对其固有可靠性有进一步的提高。
结束语
电子产品的可靠性十分重要，是产品质量的主要指标。我国电试验遵循的标准是GB11463《电子测量仪器可靠性试验》，一般产品在鉴定时的可靠性指标是300H，如果按常用的定时截尾试验方案进行可靠性考核，总的试验时间要达到10000H左右。由于电子产品在设计研制阶段经历了反复多次的“试验——分析——改进——再试验”的可靠性增长试验过程。在这个过程中，由于采取了改进设计及工艺措施等一系列措施来消除失效，使失效的发生逐渐减少，而可靠性得以增长。
我国的一些电子产品的可靠性指标比较国际先进标准还有差距，因此必须对国内外相关标准进行充分研究，真正从产品方案的论证、设计、生产、试验和使用全过程中对可靠性水平作出准确的评价，从而大大提高我国电子产品的可靠性水平，使产品质量达到世界先进水平